Showing all 3 results

Show sidebar
Kapat

Test CZ-Si Wafer/Alttaş, Boyut: 4″, Oryantasyon: (100), Bor Katkılı, Özdirenç: 0,001-0,005 (ohm.cm), 2 Yüzeyi Parlatılmış, Kalınlık: 200 ± 10 um

Teknik Özellikleri: Kalite Test Materyal CZ-Si Boyut (inch) 4” Oryantasyon (100) Kaplama (nm) Kalınlık (μm) 525 ± 25 Katkı Bor
Kapat

Test CZ-Si Wafer/Alttaş, Boyut: 4″, Oryantasyon: (100), Fosfor Katkılı, Özdirenç: 1-30 (ohm.cm), 1 Yüzeyi Parlatılmış, Kalınlık: 525 ± 20 um

Teknik Özellikleri: Kalite Test Materyal CZ-Si Boyut (inch) 4” Oryantasyon (100) Kaplama (nm) Kalınlık (μm) 525 ± 20 Katkı Fosfor
Kapat

Test CZ-Si Wafer/Alttaş, Boyut: 4″, Oryantasyon: (100), Bor Katkılı, Özdirenç: 1-20 (ohm.cm), 1 Yüzeyi Parlatılmış, Kalınlık: 525 ± 25 um

Teknik Özellikleri: Kalite Test Materyal CZ-Si Boyut (inch) 4” Oryantasyon (100) Kaplama (nm) Kalınlık (μm) 525 ± 25 Katkı Bor